單項(xiàng)選擇題用IIW試塊測(cè)定的斜探頭的折射角度,在探測(cè)任何聲束的試件時(shí),比值()。

A.不變
B.變化


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1.單項(xiàng)選擇題底片寬容度大,則底片()低。

A.靈敏度
B.對(duì)比度
C.清晰度
D.感光速度

2.單項(xiàng)選擇題時(shí)基器產(chǎn)生的時(shí)基線是用來(lái)測(cè)定()的。

A.缺陷位置
B.回波時(shí)間
C.回波高度

3.單項(xiàng)選擇題射線照片上產(chǎn)生黑的樹(shù)枝狀痕跡的原因可能是()。

A.鉛箔屏劃傷
B.膠片受到彎折
C.取片方法不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題在外磁場(chǎng)作用下,使物體帶有磁性的現(xiàn)象稱為()。

A.磁感應(yīng)現(xiàn)象
B.磁介質(zhì)
C.電路感應(yīng)現(xiàn)象
D.磁場(chǎng)強(qiáng)度

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