核探測(cè)技術(shù)與核電子學(xué)填空題每日一練(2019.01.19)

來(lái)源：考試資料網(wǎng)

1.填空題在測(cè)量β放射源的活度時(shí)，為了降低軔致輻射的影響，源的托盤(pán)最好采用（）

2.填空題由ZnS（Ag）組成的閃爍計(jì)數(shù)器，一般用來(lái)探測(cè)（）的能量和強(qiáng)度。

3.填空題β射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用的主要形式有以下四種：激發(fā)與電離、（）；（）、正電子淹滅。

4.填空題用涂鈾電離室探測(cè)中子是通過(guò)（）方法間接探測(cè)中子

5.填空題進(jìn)行放射性測(cè)量中，樣品計(jì)數(shù)率的大小為100cps，若要求計(jì)數(shù)率的相對(duì)統(tǒng)計(jì)誤差不大于1%，則最短測(cè)量時(shí)間應(yīng)為（）。